吉時(shí)利發(fā)布半導(dǎo)體測試軟件的升級版KTE 5.3

 美國俄亥俄州克利夫蘭，2011年9月19日訊–先進(jìn)電氣測試儀器與系統(tǒng)的領(lǐng)導(dǎo)吉時(shí)利儀器公司發(fā)布了獲得業(yè)界好評的吉時(shí)利測試環(huán)境（KTE）半導(dǎo)體測試軟件的升級版。KTE V5.3是專為配合吉時(shí)利迄今為止快、經(jīng)濟(jì)有效的過程控制監(jiān)控方案產(chǎn)品線S530參數(shù)測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)的。

KTE是一款強(qiáng)大的測試開發(fā)和運(yùn)行軟件平臺，有數(shù)百家半導(dǎo)體晶圓廠都在使用吉時(shí)利前幾代的參數(shù)測試系統(tǒng)?，F(xiàn)在，吉時(shí)利的S530測試系統(tǒng)利用這個被業(yè)界長期驗(yàn)證的軟件平臺在苛刻的生產(chǎn)環(huán)境中實(shí)現(xiàn)了靈活的測試計(jì)劃開發(fā)和高速測試?，F(xiàn)有吉時(shí)利S400和S600系列參數(shù)測試儀用戶將特別受益于S530系統(tǒng)上的KTE V5.3，因?yàn)榭梢詫⒓扔袦y量程序輕松地移植到S530，而且現(xiàn)有測試儀和新的S530系統(tǒng)可以共享同一個測試計(jì)劃。

將KTE測試開發(fā)和運(yùn)行環(huán)境擴(kuò)展至S530系統(tǒng)結(jié)合了吉時(shí)利30年的參數(shù)測試代碼開發(fā)實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)和市場上快進(jìn)的系統(tǒng)硬件優(yōu)勢。S530儀器提供過程控制監(jiān)控等參數(shù)測試應(yīng)用要求的高速度和寬測量范圍。

吉時(shí)利致力于讓新測試系統(tǒng)高度兼容較早的系統(tǒng)支持吉時(shí)利參數(shù)測試客戶。保持軟件兼容性的承諾確保了移植路徑更為平滑并能在測試平臺上加入更新、更高速測試儀以保護(hù)晶圓廠的測試軟件投資。對于吉時(shí)利參數(shù)測試的新客戶，恪守系統(tǒng)軟件連續(xù)性的承諾意味著客戶會對基于業(yè)界長期驗(yàn)證軟件的測試系統(tǒng)充滿信心。



對于已經(jīng)使用KTE較早版本的客戶來說，KTE V5.3加速并簡化了S530測試系統(tǒng)到測試平臺的集成。

• 同一種測試方法和測試方案適用于所有吉時(shí)利自動參數(shù)測試系統(tǒng)，這不僅縮短了使用多個系統(tǒng)的測試工程師和操作人員的學(xué)習(xí)過程，而且在測試平臺增加新的高速系統(tǒng)或取代較早平臺時(shí)提供平滑的移植路徑以保護(hù)晶圓廠的測試開發(fā)投入。

• 用戶只需重新編譯和重新生成多年來為更早的吉時(shí)利系統(tǒng)開發(fā)的常用用戶庫，就能繼續(xù)在S530上使用這些用戶庫。通常，只需進(jìn)行少量調(diào)試。

• KTE V5.3簡化了創(chuàng)建條件測試序列的新用戶訪問點(diǎn)（UAP）源代碼以及定制S530的系統(tǒng)工作流程。為早期吉時(shí)利系統(tǒng)開發(fā)的UAP源代碼適用于S530系統(tǒng)，只需作少量調(diào)整。

• KTE的工具對吉時(shí)利所有參數(shù)測試平臺都具有*相同的功能性。

面向S530的KTE適于在標(biāo)準(zhǔn)工業(yè)PC的Linux操作系統(tǒng)上運(yùn)行以確保長期穩(wěn)定性和易于維護(hù)性。該軟件已針對高吞吐率生產(chǎn)測試環(huán)境作了速度和擴(kuò)展可靠性的優(yōu)化。運(yùn)行KTE V5.3的S530系統(tǒng)能實(shí)現(xiàn)過程控制監(jiān)控、過程可靠性監(jiān)控和器件特性分析要求的全部直流I-V和C-V測量。S530系統(tǒng)針對必須適應(yīng)廣泛產(chǎn)品組合的生產(chǎn)參數(shù)測試環(huán)境，或者在寬范圍應(yīng)用靈活性和快速測試方案開發(fā)等至關(guān)重要的場合中的使用進(jìn)行了優(yōu)化。